摘要：该文给出了一种基于知识的天体光谱的红移测量和谱线证认方法。首先，利用特征谱线的相关知识对红移候选和特征谱线候选进行了定义，并根据定义交叉确认红移候选和特征谱线候选；然后，利用Parzen窗法对所得到的红移候选集进行密度估计；最后，确定密度最大的红移候选，将落入其Parzen窗内的所有红移候选值进行平均得到红移，与这些红移候选值相对应的特征谱线候选即为特征谱线。与现有的基于谱线匹配的方法相比，该方法对谱线提取效果的依赖程度较低。实验结果表明：该方法的鲁标性较好，正确牢较其它基于谱线匹配的方法有较大提高。

关键词：谱线证认 密度估计 

单位：西安电子科技大学数学系; 西安710071; 中国科学院自动化所模式识别国家重点实验室; 北京100080