摘要：针对GIS生产及维修过程中可能存在的固定或自由微粒会使GIS正常运行时局部场强过高而导致耐压水平降低的问题，借助高准确度的ANSYS有限元法软件分别研究了固定微粒在靠近252kV GIS绝缘子的高压导体上和接地外壳内侧时GIS的电场分布情况，发现两种情况下的电势等值线分布情况变化不大，但电场强度分布情况明显不同，计算结果对研究GIS内部微粒污染所致击穿电压降低及局部放电有一定意义。

关键词：有限元法 静电场 电场强度 

单位：西北工业大学电子与信息学院; 西安710072; 西安科技大学电气控制工程学院; 西安710054