摘要：本文提出了一种对VLSI电路功能测试的方法,可以同时检测和定位VLSI电路输入和输出端上的固定故障和桥接故障,而不需要知道它们的内部逻辑结构.因而,对于简化测试过程、降低测试成本, 具有十分重要的实际意义.
关键词：大规模数字集成电路 vlsi 列交换算法 标准矩阵 功能测试
单位：上海大学计算机学院，上海200072
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