摘要：本文采用电路模拟手段对典型基准组合电路中的SET传播特性进行了研究，发现了一类新的导致脉冲展宽效应的机理——扇出重汇聚。根据重汇聚点逻辑门类型和输入脉冲特征的不同，重汇聚可以引发两种类型的脉冲。这两类脉冲具有截然不同的特征，一类脉冲的宽度与原始SET脉冲宽度无关，而另一类脉冲的宽度与原始SET脉冲宽度基本成线性关系，并在原始SET脉冲宽度的基础上存在净的展宽或者压缩。当空间重离子在电路的输入端附近轰击产生一个宽度为200ps的脉冲时，传播到输出端的脉冲宽度可达690ps，被后续时序单元俘获的概率从5％升高到29．5％，整整提高了近6倍。

关键词：电路模拟 重汇聚 传播 set 

单位：国防科技大学计算机学院 湖南长沙410073