摘要：单粒子瞬变（SET）现象对高性能计算的影响日益严重，本文对高性能微处理器中锁相（PLL）的RHBD（Radiation Hardened-By-Design）加固方法进行了分析和总结，从系统级和电路级两个方面对PIA。的SET加固方法进行了分类研究。分析结果表明，设计加固方法可以在较高的层次上考虑加固问题，降低了工艺依赖性，可以有效地提高PLL可靠性。

关键词：软错误 set 锁相环 rhbd 电路加固 

单位：国防科技大学计算机学院 湖南长沙410073