摘要：提出了一种基于数据驱动的集成电路故障预测与健康管理（PHM）模型，该模型基于反向传播（BP）神经网络算法，避免了对集成电路老化失效物理机理的依赖，能有效拟合集成电路失效的非线性函数关系。以已编程应用设计的FPGA为目标器件，通过实验提取参数样本进行模型训练，并将模型应用于实测验证。结果表明，该模型输出结果与实测结果吻合良好，能有效满足集成电路故障预测与健康管理的实际应用。

关键词：集成电路 bp神经网络 phm模型 

单位：电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室; 四川成都610054