摘要：分别采用比色法和荧光光谱分析法研究分析高压脉冲电场（PEF）对辣根过氧化物酶（HRP）活性及构象的影响。结果表明：HRP的活性随电场强度和脉冲个数的增加而降低,电场强度为20kV/cm,20个脉冲数时酶活下降15%,80个脉冲数时下降55%。PEF处理后HRP蛋白的荧光发生不同程度的荧光淬灭,在高电场条件下发生荧光峰的位移。另外,HRP酶活性下降和荧光淬灭趋势一致,但呈非线性关系。两者变化过程都存在一个相似的临界场强（10kV/cm左右）,表明酶构象改变与酶活性变化间存在密切的关系。

关键词：活性 构象 

单位：福建农林大学食品科学学院 福建福州350002