摘要：基于半导体物理和IGBT基本结构，通过合理简化与理论推导，建立了电压变化率模型，对电压变化率的影响因素与温度特性进行了深入研究，得出电压变化率随电压或电流的增大，线性增大；随结温增大，线性减小．基于电压变化率模型，建立了IGBT电压变化率结温预测模型．仿真和实验结果验证了模型的正确性与准确性．对实现IGBT结温在线监测、提高IGBT模块及电力电子装置可靠性具有一定的理论意义和应用价值．

关键词：载流子浓度 迁移率 电压变化率 结温预测模型 

单位：海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室 武汉430033