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基于Gray码和线移条纹的结构光3D测量技术

于晓洋 吴海滨 仪器仪表学报 2008年第04期

摘要:结构光3D测量的关键问题之一是准确地确定图像采样点并求其投射角。提出一种以时序向被测表面投射Gray码和线移条纹进行编码,以亚像素定位技术提取Gray码条纹边缘和线移条纹中心,将其上点作为图像采样点进行解码的方法。消除了Gray码固有的一位解码误差对投射角求取的影响,同时提高了采样密度。文中具体介绍该方法的编码解码原理,分析了编码图案正交投射对测量准确度的影响,给出了仿真实验结果。测量误差约为0.04%。

关键词:3d测量结构光gray码线移

单位:哈尔滨理工大学 哈尔滨150080

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