线上期刊服务咨询,发表咨询:400-808-1701 订阅咨询:400-808-1721

一种FPGA的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法

廖永波 李平 阮爱武 仪器仪表学报 2010年第04期

摘要:提出并验证了一种新颖的FPGA中CLB的全覆盖定位测试方法,该方法通过建立基于SOC软硬件协同技术的FPGA自动测试系统,实现了CLB测试所需要的多次下载不同的配置图形,针对每个配置图形进行测试的需求;该方法通过建立规则布局CLB串行移位阵列为基础形成的FPGA定位配置图形、以及FPGA自动定位算法,实现了对FPGA中所有CLB的全覆盖测试以及错误定位。利用本文提出的方法对Xilinx公司XC4010型号FPGA中所有CLB进行了测试,实验结果表明该方法可以实现FPGA中CLB的全覆盖测试以及错误定位。

关键词:软硬件协同验证fpgaclb定位测试

单位:电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 成都610054

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

仪器仪表学报

北大期刊

¥1560.00

关注 25人评论|0人关注