摘要：IP（intellectualproperty）核复用的设计思想使得SoC（system—on—a—chip）成为当今集成电路设计的主流，但对其进行测试变得异常困难，这就是需要为SoC设计测试结构的主要原因。传统的测试结构功能是：根据自动测试设备（automatictestequip—mcnt，ATE）提供的某一频率，将测试数据通过测试结构依次施加到SoC内部的IP核，并获取测试响应传输到ATE中，以分析其功能正常与否。但是这种测试结构存在很多缺点，其中最主要的是未考虑测试设备提供的测试访问机制（testaccessmecha—nism，TAM）的宽度与SoC内各IP核的最佳测试带宽是否一致。对这一系列问题进行研究，提出一种基于带宽匹配思想的SoC测试结构设计方法，该方法主要通过一个带宽匹配转换模块，实现测试数据的宽度调整和施加频率的调整，在牺牲了芯片部分额外面积的前提下，很好地实现了测试带宽和测试频率的匹配，缩短了SoC的测试时间。最后将这种方法应用在ITC’02标准测试集上，实验结果验证了该方法的有效性。

关键词：ip核复用 测试结构 测试访问机制 带宽匹配 

单位：哈尔滨工业大学自动化测试与控制系 150080