摘要：超声成像技术可以为探伤人员提供更可靠、直观的检测结果,在超声无损检测中的应用越来越普遍.然而,超声检测信号的时间宽度较宽,时间分辨率较低,在两缺陷相距较近的情况下,缺陷的反射回波往往叠加在一起,使得超声成像时难以实现相邻缺陷的辨识.为提高超声波检测信号时间分辨率,实现相邻缺陷的识别,将维纳滤波和自回归谱技术相结合,发展了一种超声脉冲压缩技术,并将其应用于超声阵列成像处理.研究了自回归谱分析中回归阶数和衰减窗宽度对缺陷识别效果的影响,并优化出最佳的处理参数.仿真和检测实验结果表明,通过对超声检测信号进行维纳滤波和自回归谱分析,可以大大提高超声检测信号的时间分辨率,从而实现相邻缺陷的识别.

关键词：脉冲压缩技术 自回归谱分析 超声相控阵 全聚焦成像 缺陷识别 

单位：北京工业大学机械工程与应用电子技术学院 北京100124 中国特种设备检测研究院 北京100013