线上期刊服务咨询,发表咨询:400-808-1701 订阅咨询:400-808-1721

基于DS2172和DS21554的误码测试仪设计

杨海涛; 纪海林 自动化仪表 2007年第10期

摘要:介绍了一种采用误码专用测试芯片DS2172和E1接口芯片DS21554的误码测试仪的设计方案。该误码测试仪可以完成2048kbpsj速率及一些较低速率的误码测试,提供E1接口及TIL接口两种模式,同时提供伪随机码和人工码两种测试码型,详细介绍了具体的硬件电路设计和具体的软件设计。设计结果表明该误码仪可以完成误码测试、误码统计及误码率的计算,能够满足数字传输系统常见故障的检测需求。

关键词:误码测试仪e1接口随机间隔芯片图形化

单位:总参谋部第63研究所; 南京210007

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

自动化仪表

统计源期刊

¥408.00

关注 27人评论|1人关注