摘要：目前TFT模块的生产过程中常伴有模块的线缺陷和点缺陷,依据TFT模块的驱动和测试原理,设计了一种由FPGA和模拟开关组成的集成测试信号源,该信号源可提供源极信号、栅极信号、栅极控制信号和公共地信号四路测试信号,此四路信号无论是在频率、占空比、延时,还是幅值上都满足对一般中小尺寸TFT液晶模块的线缺陷和点缺陷的测试要求,可以灵活方便地移植到其他模块测试中,具有通用性。

关键词：线缺陷 点缺陷 驱动信号 模拟开关 移植 

单位：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 吉林长春130033 中国科学院研究生院 北京100039