摘要：已有研究表明,绝缘栅双极性晶体管（insulated gate bipolar transistor,IGBT）的可靠性与结温波动密切相关,如能准确地实时测量IGBT的结温,对可靠性的研究具有重要意义。依据温敏电参数法,该文提出一种基于栅极电压开通密勒平台的结温估计方法。首先分析IGBT栅极寄生电容的物理特性与温度的关系,得到栅极开通过程中密勒平台电压与结温线性相关;然后提出采用恒流驱动电路延长栅极电压开通过程中密勒平台持续时间,使其温敏感度与温线性度更高,可拟合出密勒平台值和结温间的线性关系;最后采用该方法对IGBT模块的结温估算进行实验验证,并与采用红外测温仪实时测量的结温进行对比,验证了所提方法的可行性和准确性。

关键词：igbt 结温 寄生电容 可靠性 温敏电参数 

单位：输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学); 重庆市沙坪坝区400044