摘要：为了提高半导体光放大器（SOA）增益系数谱测量的准确性,减少光谱仪分辨率和系统噪声对测量结果的影响,提出了由传统的Hakki-Paoli（HP）方法改进得到的基于小波去噪和去卷积过程的Hakki-Paoli（HP-DD）方法,分析了其原理,并给出去卷积的算法和小波去噪的原理。在数值模拟中,对模拟的放大自发辐射（ASE）谱进行处理,表明HP-DD方法能较大程度地改善增益系数谱的测量准确度。在实验中,通过对半导体光放大器的放大自发辐射谱进行实际测量,分别用HP-DD方法和HP方法求得增益系数谱,验证了HP-DD方法的测量结果的精确度有很大程度的改善。

关键词：测量 半导体光放大器 增益系数谱 小波去噪 反卷积 

单位：华中科技大学光电子科学与工程学院; 湖北武汉430074