摘要：为了验证将光学相干层析（OCT）成像技术应用于古代陶瓷无损检测,将OCT图像表现的釉面的断面特征用于古代陶瓷类别区分的可行性,利用宽波长频域OCT成像系统对选自5个窑口的8个不同釉系、色系的瓷片进行测试,得到了样品的断面结构图像,并分析了OCT图像中的气泡大小和分布、强散射颗粒分布、釉层均匀性、透射率、釉层的分层等特征。实验结果显示8个古代瓷釉样品OCT成像特征差异明显,说明OCT成像技术能基于断层图像特征对瓷釉的釉系、窑口进行区分。

关键词：测量 光学相干层析 无损成像 瓷釉 

单位：中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心 上海201800 中国科学院大学 北京100049 河南省文物考古研究院 河南郑州450000