摘要：对涡流式位移传感器测头的均化效应进行了理论分析，指出被测转子的细微轮廓可以被均化，其回转误差的测量不受均化影响。推导了均化效应的幅频特性曲面，根据此幅频特性，对采样数据的高次成分的失真现象进行了深入分析。

关键词：涡流传感器 均化效应 非接触测量 径向回转误差 轮廓误差 

单位：西安理工大学; 西安710048