摘要：多台同型产品同步纠正可靠性增长试验所得到的数据是单失效数据，依据美军标／国军标和AMsAA-BISE模型得到的分析结果，该数据往往高于产品实际可靠性水平。针对这种情况，提出一种数据统计分析的新方法，即先采取多层Bayes估计法和加权最小二乘估计法，求得各个失效发生时间的期望值，替代单台AMSAA模型中的失效时间，再实现对产品可靠性增长试验数据的统计分析。通过对以上方法进行蒙特卡罗模拟，对比分析结果表明，利用新方法所得结果更接近产品的实际可靠性水平。

关键词：可靠性增长 amsaa模型 多台同型产品 同步纠正 多层bayes 

单位：浙江理工大学浙江省机电产品可靠性技术研究重点实验室; 杭州310018