摘要：利用波长650 nm、功率25 mW的半导体激光及计算机视觉技术,初步探讨了利用激光图像分析检测苹果（嘎拉）采后表面损伤和内部腐烂检测的可行性。利用钢球砸伤,模拟苹果在采收和运输过程中受到的损伤;利用微量注射器从苹果底部将15μL（105/mL孢子浓度）的青霉菌液注入果心部位使其腐坏,模拟苹果内部的腐烂。进行激光图像检测试验,结果表明,受损伤后苹果图像像素数S3在36 h达到最高值（3 964）,且在1~84 h内与对照差异显著（P≤0.05）;接种后的苹果随着内部的腐烂,在第4 d时像素数S3达到最高值（3 682）,而后开始下降,第7 d与对照差异显著（P≤0.05）。初步验证本方法检测苹果表面的损伤和内部腐烂是可行的。

关键词：苹果 损伤 内部腐烂 计算机视觉 半导体激光 

单位：南京农业大学食品科技学院 南京210095