摘要：针对非正态响应的稳健设计，首先在均值与散度的联合广义线性模型基础上构建了基于广义线性模型（generalized linear model，GLM）的双响应曲面模型。然后，鉴于所构建的双响应曲面模型为高度复杂的非线性函数，运用遗传算法与模式搜索的混合算法对其进行参数优化，获得可控因子的最佳参数设计值。最后，运用所提出方法对某测试晶片电阻率的参数设计进行了分析。研究结果表明，该方法能有效地减少测试晶片电阻率的质量波动，提高了产品质量的稳健性。

关键词：稳健设计 广义线性模型 双响应曲面方法 遗传算法 模式搜索 

单位：南京理工大学经济管理学院 江苏南京210094 南京理工大学自动化学院 江苏南京210094