摘要：本文针对交联聚乙烯（XLPE）电缆绝缘料纯净度检测的问题，研制了基于形貌重建的高速扫描测量系统。该测量系统采用现场可编程门阵列（FPGA）芯片控制高速A／D转换器采集CCD数据，根据动态阈值压缩CCD扫描图像数据并对数据进行封装处理，在保留杂质信息的前提下大幅地减少了待处理数据。封装数据通过USB2．0接口传输至上位机进行分析、记录和杂质图像重建。实验证明此系统测量实时准确，杂质形貌信息恢复完好。该系统适用于XLPE电缆绝缘料的缺陷检测和形貌测量。

关键词：交联聚乙烯 杂质检测 数据处理 现场可编程门阵列 

单位：哈尔滨理工大学电气与电子工程学院 哈尔滨150040 哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院 哈尔滨150040