摘要：利用Linnik显微干涉技术和环境控制技术，研制了一套环境可控的微机电系统（MEMS）微结构离面动态变形测试系统，该系统可测量不同温度、不同压力下MEMS微结构的离面动态变形情况。测试系统的环境控制装置可提供0～300℃的温度变化和0．1～0．6MPa的压力变化。利用测试系统对不同压力下绝压型硅微压力传感器膜的动态变形以及不同温度下微电路板的变形形貌进行了测量，其中绝压型硅微压力传感器膜变形量的测量重复性误差小于20nm。

关键词：mems微结构 动态变形 环境控制 显微干涉 

单位：华中科技大学数字制造装备与技术国家重点实验室 武汉430074 暨南大学 珠海519070 武汉光电国家实验室(筹) 武汉430074