摘要：介绍了一种基于神经网络的组合电路多故障测试生成算法。根据故障转换方法将组合电路的多故障测试生成问题转化为单故障测试生成问题，利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成对应的神经网络，通过建立被测电路的约束网络，构造神经网络的能量函数，使组合电路的测试矢量对应神经网络能量函数的最小值点。将测试生成问题数学化，并使用遗传算法求解能量函数的最小值点得到多故障电路的测试矢量。标准电路的实验表明，该测试算法有效可行。

关键词：测试生成 神经网络 能量函数 多故障 遗传算法 

单位：华北电力大学电气与电子工程学院 河北保定071003