线上期刊服务咨询,发表咨询:400-808-1701 订阅咨询:400-808-1721

模拟集成电路的测试节点选择

孙秀斌; 陈光禑; 谢永乐 电子与信息学报 2004年第04期

摘要:如何寻求一个最佳的测试节点或测试矢量集是模拟集成电路的故障诊断中的重要问题.该文提出了一种基于可测性测度计算:的测试节点选择方法.利用行列式判决图,可以有效而准确地求得被测电路传输函数的符号表达式和计算出其可测性测度.该方法完全消除了由数字方法引入的不可避免的舍入误差,并能处理中、大规模的集成电路.

关键词:模拟集成电路故障诊断可测性测度行列式判决图测试节点

单位:电子科技大学自动化工程学院; 成都; 610054

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

电子与信息学报

北大期刊

¥1120

关注 31人评论|2人关注