摘要：本文从数字CMOS集成电路的I／O结构、全ESD防护结构、自动测试设备的PMU、恒压源恒流源的原理出发，综合分析了功能测试及PMU测试过程中加压测流和加流测压与IC输入、输出、三态及双向管脚的相互作用，给出了一些测试过程对IC造成影响的可能性，以及对IC管脚性能影响的规避措施。

关键词：cmos ic 精密测量单元 测试过程 管脚 

单位：北京微电子技术研究所; 北京100076