摘要：针对传统小麦分蘖形态学特征需采用人工接触或有损方法获取，不仅过程繁琐、主观性强而且会影响小麦后续生长。为实现小麦分蘖性状快速、准确、无损测量，该文提出一种基于X射线断层成像的小麦分蘖形态学特征提取方法。首先构建了小麦分蘖X．raycT断层扫描成像系统，采用滤波反投影（filteredbackprojection，FBP）断层重建算法和图形处理单元（graphicsprocessingunit，GPU）加速算法快速获取小麦分蘖茎秆断层图像，设计了专门的分蘖图像分析算法实现对小麦分蘖形态学特征参数（分蘖数、分蘖角度、分蘖茎粗和分蘖壁厚）的无损检测。该研究对107株小麦植株测量结果表明：分蘖数测量准确率可达100％，分蘖角度、茎粗和壁厚的平均测量误差分别为3．65％，4．84％和7．86％。该技术相较于人工测量方法和石蜡切片方法，能够对小麦分蘖形态学特征进行较为精准无损检测，实现单株测量效率约200S，对于小麦功能基因组和抗倒伏能力品种的筛选具有重要的研究意义。

关键词：x射线 断层重建 图像处理 小麦分蘖 无损检测 

单位：华中农业大学工学院; 武汉430070; 华中农业大学作物遗传改良国家重点实验室; 武汉430070