摘要：目的研究围生期各种相关因素与新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）发病的关系，并探讨CT诊断新生儿缺氧缺血性脑病的临床意义。方法回顾分析2001年1月～2008年1月213例本院住院HIE新生儿的病历资料，同时随机选取同期住院治疗213例无HIE新生儿作对照组。HIE组患儿均在生后4～10天（平均6天）进行头颅CT平扫检查确诊。观察两组患儿和母亲的情况，采用单因素分析和逐步Logistic回归分析的方法，筛选HIE发病的危险因素。结果在诸多相关因素中两组患儿有10个围生因素存在显著性差异，是HIE的易感因素，分别为新生儿窒息、Apgar评分、胎儿宫内窘迫、出生后患儿抽搐、胎盘异常、羊水Ⅲ度混浊、第二产程延长、妊高征、脐带因素、治疗初期并发低血糖。其中新生儿窒息、胎儿宫内窘迫、妊高征、治疗初期并发低血糖是HIE的高危因素。结论目前HIE诊断仍以临床表现为主要依据，辅佐头颅CT平扫检查具有重要意义。加强围生期保健，及时处理产前产时合并症及胎儿窘迫等对HIE的预防有重要临床意义。

关键词：新生儿 围生期 缺氧缺血性脑病 危险因素 头颅ct平扫 

单位：湖北省襄樊市妇幼保健院儿科 襄樊441021