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有关X射线测厚仪技术的研究

靳其兵; 吴磊 自动化仪表 2007年第01期

摘要:对西门子PLC(可编程控制器)在薄膜测厚仪上的应用进行了研究,并比较了传统的以工控机为核心的电控系统与以PLC为电控核心的系统的优缺点。详细介绍了测厚仪电控系统的组成和原理,同时对测厚数据的处理方法进行了说明。实践表明,该系统控制结构简单,有较高的运行效率和可靠性。整套装置已成功运行在聚丙烯双向拉伸薄膜生产线上。

关键词:可编程控制器测厚仪数据处理

单位:北京化工大学自动化研究所; 北京100029

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