首页 > 期刊 > 自动化仪表 > 有关X射线测厚仪技术的研究 【正文】
摘要:对西门子PLC(可编程控制器)在薄膜测厚仪上的应用进行了研究,并比较了传统的以工控机为核心的电控系统与以PLC为电控核心的系统的优缺点。详细介绍了测厚仪电控系统的组成和原理,同时对测厚数据的处理方法进行了说明。实践表明,该系统控制结构简单,有较高的运行效率和可靠性。整套装置已成功运行在聚丙烯双向拉伸薄膜生产线上。
关键词:可编程控制器 测厚仪 数据处理
单位:北京化工大学自动化研究所; 北京100029
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
相关期刊
相关范文
统计源期刊
¥408.00