摘要：目的分析新生儿低血糖脑损伤的相关高危因素。方法选取2010—01—2013—06本院收治的145例低血糖新生儿为研究对象，将脑损伤的发生率进行统计，并对Apgar评分、低血糖持续时间、血糖水平及是否伴有惊厥者的发生率进行比较，以Logistic分析上述因素。结果145例低血糖新生儿中发生50例脑损伤，发生率为34．48％，其中低Apgar评分、低血糖持续时间〉12h、血糖〈1．1mmo｜／L及伴有惊厥者的发生率明显高于高Apgar评分、低血糖持续时间≤12h、血糖≥1．1mmol／L及伴无惊厥患儿，Logistic分析显示其均为脑损伤的危险因素（P均〈O．05）。结论低Apgar评分、低血糖持续时间〉12h、血糖〈1．1mmol／L及伴有惊厥均是新生儿低血糖脑损伤的相关高危因素，应给予针对性防控干预，以尽量降低脑损伤的发生。

关键词：新生儿低血糖 脑损伤 高危因素 

单位：安徽阜阳市第六人民医院儿科 阜阳236003