摘要：本刊讯 1月9日,2014年度国家科学技术奖励大会在人民大会堂隆重召开。由中国计量科学研究院（以下简称“中国计量院”）牵头完成的“痕量分析用试剂纯化与检测关键技术及应用”成果荣获国家科技进步二等奖。

关键词：中国计量科学研究院 国家科技进步二等奖 计量院 国家科学技术奖励大会 人民大会堂 

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