摘要：目的：采用事件相关电位（ERP）方法考察社会悲伤与愉快情绪的加工时程特点，以探明社会情绪能否引起负性偏向。方法：16名在校大学生观看社会悲伤、中性与愉快情绪图片，同时记录EEG，离线分析比较三种图片诱发的P2与N2等ERP成分的峰潜伏期、波幅及其头皮分布。结果：与愉快情绪相比较，社会悲伤性情绪使P2潜伏期缩短（177．9→168．8ms），N2波幅增大（-3．4→4．2μV）；P2、N2波幅均表现为右半球优势（左、右半球P2分别为：4．2与5．2μV；N2：→3．1与-3．7μV）。结论：社会情绪引起负性注意偏向，并存在心理加工的右半球优势。

关键词：社会情绪 负性偏向 p2 n2 

单位：中国科学院心理研究所; 北京100101; 北京师范大学认知神经科学与学习国家重点实验室; 北京100875